光學(xué)膜片軸向測量儀是一款全自動測量偏光片和偏光膜吸收軸(透過軸)角度的儀器。
光學(xué)膜片光軸測量儀采用偏振光光電探測技術(shù)對透過材料的偏振光進行高精度采集測量,從而計算出偏振材料主軸相對機械坐標的夾角,用于指導(dǎo)生產(chǎn)出符合客戶要求角度的偏振材料。對于傳統(tǒng)偏振材料的裁切,其需求角度和裁切角度通常會有一定的偏差,有時會達到0.5°、1°甚至更大,導(dǎo)致后續(xù)產(chǎn)品的加工中造成品質(zhì)差異。因為偏振材料不同軸角度的組合會帶來輸出光強的不一致,客戶直觀體驗出現(xiàn)明顯差異。而吸收軸測量儀目前階段只能針對偏振片進行測量,如補償膜、離型膜就無法進行檢測。光學(xué)膜片光軸測量儀通過雙偏振模組機構(gòu),實現(xiàn)了一臺設(shè)備的綜合測量;全自動檢測,為產(chǎn)品的品質(zhì)保障提供有力的數(shù)據(jù)支撐。
測試時采用手動放置偏光片和其他光學(xué)膜的方式,可對偏光片和其他光學(xué)膜吸收軸角度(透過軸角度)進行單次測量和多次連續(xù)測量,并實時顯示測量結(jié)果。配置電腦可保存大量測試數(shù)據(jù),具備數(shù)據(jù)查詢,光軸角度分布分析、數(shù)據(jù)報表導(dǎo)出等功能。
設(shè)備優(yōu)勢:
采用高精度進口電機,具備極高的角度分辨率,可有效保證測量精度;
測量時樣品載具自動定位,減少人為干擾因素,重復(fù)定位精度高;
預(yù)先選定測量類型,其中偏振膜與其他薄膜測量算法不同
主要技術(shù)參數(shù):
檢測原理:偏振光光電探測技術(shù)
偏光板測量范圍:0-180°;
離型膜測量范圍:0-90°;
補償膜測量范圍:0-90°;
精度/標準偏差: 約±0.05°
分辨率: 約為0.02°
視野范圍:φ30mm
構(gòu)成: 臺式電腦 (含測量軟件一套)、電纜線等
光源:LED 632.8nm;