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UV-340型紫外輻照計(jì)采用SMT貼片技術(shù)，選用高精度低功耗數(shù)字芯片，儀器外殼為流線型設(shè)計(jì)，探測(cè)器經(jīng)過(guò)嚴(yán)格的光譜及角度特性校正，性能穩(wěn)定，適用性強(qiáng)。適用于光化學(xué)、高分子材料老化、紫外光源、以及大規(guī)模集成電路光刻等領(lǐng)域的紫外輻照度測(cè)量工作。
性能特點(diǎn)
1、光譜及角度特性經(jīng)嚴(yán)格校正
2、數(shù)字液晶顯示，帶背光
3、手動(dòng)/自動(dòng)量程切換
4、數(shù)字輸出接口（USB,冗余供電）
5、低電量提醒
6、自動(dòng)延時(shí)關(guān)機(jī)
7、有數(shù)字保持
8、輕觸按鍵操作，蜂鳴提示
技術(shù)參數(shù)
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項(xiàng)目 |
參數(shù) |
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波長(zhǎng)范圍λ1，峰值波長(zhǎng)λp |
（315～370）nm，λP＝340nm |
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輻照度測(cè)量范圍 |
(0.1～199.9×103) μW/cm2 |
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紫外帶外區(qū)雜光 |
UV254<0.1%，UV297<0.05% |
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零值誤差（滿量程FS） |
<滿量程的±1.0% |
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長(zhǎng)波響應(yīng)誤差 |
<15% |
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余弦特性（方向性響應(yīng)）誤差 |
<10% |
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非線性誤差 |
<±1.5% |
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換檔誤差 |
±1% |
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疲勞誤差 |
<3.0% |
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相對(duì)示值誤差 |
<±8.0％（相對(duì)于NIM標(biāo)準(zhǔn)） |
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響應(yīng)時(shí)間 |
<1秒 |
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使用環(huán)境 |
溫度(0~40)℃；濕度＜85％RH |
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尺寸和重量 |
160mm×78mm×43mm；0.2kg |
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電源 |
6F22型9V積層電池（非充電電池） |
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整機(jī)功耗 |
＜0.1VA |
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配置 |
主機(jī)、340探頭、探頭蓋、數(shù)據(jù)線、說(shuō)明書(shū)、合格證、9V電池等 |
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